赛默飞分光光度计Evolution光路检查
质保3年只换不修,厂家长沙实了个验仪器制造有限公司
一、概述
赛默飞 Evolution 系列分光光度计 是一种高精度的紫外–可见光分析仪器,其性能稳定性和数据准确性高度依赖于光路系统的状态。
在长期使用过程中,光路中任一光学元件(如光源、反射镜、光栅、比色皿或检测器)发生偏移、污染或损伤,都会导致测量结果误差、吸光度波动或基线漂移。
“光路检查”(Optical Path Inspection)即对仪器内部的光学传输路径进行全面验证,确保光线从光源到检测器的传播方向正确、能量稳定、对准精确。
通过系统化检查,可预防因光学异常造成的信号偏差、光强衰减或波长误差。
二、光路系统结构与原理
2.1 光路总体结构
Evolution 分光光度计的光路系统一般包括以下部分:
光源系统 —— 产生宽谱连续光;
准直系统 —— 通过透镜或反射镜使光线平行;
单色器(分光系统) —— 由狭缝和光栅组成,将复合光分离成单色光;
样品室 —— 光线穿过比色皿及样品溶液;
检测系统 —— 接收透射光并转换为电信号;
信号处理系统 —— 将信号转化为吸光度或透射率。
整个光路以 直线型或双光束光路结构 为主,设计上追求光能利用率高、杂散光低及光谱稳定。
2.2 光源系统
Evolution 系列采用 氘灯(D₂ Lamp)+钨卤灯(W Lamp)组合光源:
氘灯:覆盖 190–360 nm,用于紫外区;
钨灯:覆盖 320–1100 nm,用于可见及近红外区。
仪器会在 360 nm 左右自动切换光源。光源光线经聚光镜汇聚后进入光阑系统。
若光源强度衰减或灯丝偏移,会导致输出光束偏离中心,这是光路异常的常见原因。
2.3 单色器与光栅系统
单色器负责将复合光分解为单一波长光。其核心部件为 全息衍射光栅,刻线密度一般为 1200–1800 条/mm。
光栅通过步进电机精密控制旋转角度,实现不同波长的输出。
光栅角度与波长的关系为:
d(sini+sinθ)=nλd(\sin i + \sin \theta) = n\lambdad(sini+sinθ)=nλ
若光栅位置偏移或反射镜污染,会造成波长误差或信号下降。
因此,光路检查时需重点观察光栅转动是否平稳、反射面是否清洁。
2.4 样品室与比色皿区
单色光经出射狭缝后穿过比色皿中的溶液。
此处要求:
光线垂直穿过比色皿光程方向;
样品与参比通道光程一致;
比色皿表面清洁、无气泡或指纹。
Evolution 双光束结构中,光束被分为两路:
一路通过样品比色皿;
一路通过参比比色皿。
检测系统同时比较两路信号,消除光源波动误差。
2.5 检测器系统
光电检测器将光信号转化为电信号。Evolution 根据型号不同使用:
硅光二极管阵列(Si Photodiode Array);
光电倍增管(PMT)。
检测器灵敏度直接决定光强响应线性。
光路偏移或杂散光过强会导致检测信号异常,表现为基线不稳、噪声增加或负吸光度现象。
三、光路检查的重要性
保证波长准确度:
光栅或反射镜偏移将导致波长漂移,影响定量结果。提高光度稳定性:
光源强度或光路对准误差会造成吸光度值波动。降低杂散光干扰:
光路污染和反射面损伤易产生杂散光,破坏线性关系。延长仪器寿命:
定期检查可及时发现老化部件,避免严重故障。提升数据一致性:
光路调整后可保持多次测定结果的重现性。
四、光路检查的基本流程
4.1 准备工作
关闭仪器电源并断开电源线;
打开样品舱和光路检修盖;
准备无尘镜头纸、酒精、棉签、螺丝刀、标尺等工具;
在弱光环境下检查以便观察光斑位置。
4.2 光源发光情况
启动仪器后观察氘灯与钨灯是否正常点亮;
若光源闪烁或亮度明显不均,应更换灯泡;
使用光强测试功能(Energy Test)记录光强输出;
检查灯丝是否居中,光斑应对准入射狭缝中心。
若光斑偏移超过 0.5 mm,应通过灯座微调螺钉进行校正。
4.3 光栅与反射镜检查
手动旋转光栅至中间波长位置(如 500 nm);
观察反射面是否有灰尘、氧化斑或刮痕;
若有污迹,可用镜头纸轻擦,不可使用硬质布;
检查光栅驱动是否顺畅,无异响与卡滞;
使用波长校准程序验证光栅定位是否正确。
反射镜角度微偏会导致光束无法准确聚焦至出射狭缝,从而造成光强衰减。
4.4 样品室光路检查
拆下比色皿架,打开样品舱盖;
启动“Alignment Mode”功能,输出连续光;
观察光斑是否位于比色皿中心;
若偏离,应调整反射镜角度或比色皿支架位置;
检查是否有灰尘、液滴或油迹影响透光;
清洁后重新装配并固定。
光束应在比色皿中部形成清晰亮斑,且左右两路光强对称。
4.5 检测器光响应检查
在空白条件下读取光强信号(I₀);
插入样品比色皿读取透射光强(I);
检查检测器输出是否稳定,波动不应超过 ±0.002 A;
若信号不稳,检查连接线、放大器或光电探测面清洁度。
可利用内置“Detector Test”功能进行响应测试。若检测信号明显偏低,应检查光路遮挡或反射面污染。
五、光路异常的表现与诊断
| 异常现象 | 可能原因 | 处理方法 |
|---|---|---|
| 吸光度读数波动 | 光源不稳、比色皿有气泡 | 更换光源、重新加样 |
| 光谱曲线起伏异常 | 光栅污损或反射镜偏移 | 清洁光学面或调整角度 |
| 吸光度为负值 | 空白未校准、光线遮挡 | 重新校正、检查样品舱 |
| 光强明显减弱 | 灯丝老化或狭缝被灰尘遮挡 | 更换灯泡、清洁狭缝 |
| 波长漂移 | 光栅定位误差 | 执行波长校准 |
| 双光束不平衡 | 分束镜污染或反射率不同 | 清洁或更换分束镜 |
六、杂散光检查
6.1 杂散光定义
杂散光是指与设定波长不同的光进入检测器,会降低测定的选择性与线性范围。
6.2 检查方法
设定波长 220 nm;
使用 NaI 溶液或 KCl 溶液作为样品;
若吸光度 < 2.0 A,则说明杂散光偏高;
检查光阑、反射镜或光栅的防反射涂层。
6.3 控制措施
保持光学部件清洁;
定期更换老化光源;
使用合适的带宽与狭缝宽度;
关闭样品舱盖以避免外光干扰。
七、光路对准与调整
当光强不均或光斑偏移时,可通过以下方法进行微调:
光源调整:松开灯座固定螺钉,轻微移动光源位置,使光束对准入射狭缝中心。
反射镜微调:通过调整螺丝角度改变反射方向,确保光线垂直投射至光栅。
狭缝位置:保持入射狭缝与出射狭缝在同一水平轴上。
比色皿架高度:确保光线穿过液面中心。
检测器定位:检测光束焦点应准确落在光电探测面上。
光路调整需在弱光环境下进行,避免高强度照射损伤眼睛。
八、光路检查的周期与记录
| 检查项目 | 检查周期 | 主要内容 |
|---|---|---|
| 光源亮度 | 每周 | 光强衰减、闪烁情况 |
| 光栅清洁 | 每月 | 表面灰尘、反射角度 |
| 样品舱 | 每次实验后 | 残留液滴、比色皿污染 |
| 检测器响应 | 每季度 | 信号线性与噪声水平 |
| 全光路对准 | 每半年 | 光束居中、波长校准 |
| 光学滤片验证 | 每年 | 吸收峰准确度 |
每次光路检查应填写维护记录,包括日期、操作人、发现问题及处理结果,以便后续追踪。
九、光路检查的安全规范
操作时避免直视光源,特别是紫外光;
维修或清洁前必须断电;
使用无尘工具清洁,防止刮伤光学面;
禁止使用有机溶剂擦拭光栅或滤光片;
清洁完成后确保光学盖板密封,防止灰尘进入。
十、光路系统维护技巧
环境控制:保持仪器放置区域干燥、防震、无油烟与强光;
防尘措施:不使用时盖上防尘罩;
光源管理:累计使用时间超过 1000 小时建议更换;
光学件保养:每次维护后用氮气轻吹,防止指纹残留;
软件校准同步:光路调整后应重新执行波长与光度校准程序。
十一、光路检查与性能验证结合
在光路检查完成后,建议进行以下性能验证:
波长准确度测试:使用氧化钬滤片,检查峰位偏差是否 ≤ ±0.3 nm;
光度线性测试:使用 K₂Cr₂O₇ 标准溶液,验证吸光度线性范围;
噪声与漂移测试:空白扫描基线,应平稳无明显波动。
这些验证可作为光路调整效果的量化依据。
十二、常见故障案例分析
案例 1:光强下降 40%
原因:光源灯丝偏移导致部分光被遮挡。
处理:重新调整光源位置,对准入射狭缝。
案例 2:扫描曲线出现波峰畸变
原因:反射镜污染或光栅刻线沾污。
处理:使用无尘纸轻擦镜面并执行波长校准。
案例 3:双光束信号不平衡
原因:参比光路反射镜反射率降低。
处理:更换老化反射镜,重新校准通道光强。
十三、光路检查与实验质量的关系
良好的光路状态能带来:
稳定的吸光度与透射率读数;
线性良好的定量曲线;
准确的特征吸收峰定位;
低杂散光与高信噪比。
反之,光路异常将直接影响数据重复性与实验可靠性。
十四、检查后的仪器校正
完成光路检查后,应执行以下操作以恢复仪器状态:
波长校准 —— 确认光栅定位精度;
光度校准 —— 确保吸光度准确;
能量平衡校正 —— 调整双光束通道;
基线平滑化 —— 校正零点与漂移。


