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赛默飞分光光度计Evolution实验操作

赛默飞 Evolution 系列分光光度计是一款高精度的紫外—可见光分析仪器,广泛应用于生命科学、化学分析、药物检测、环境监测和材料研究。

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一、前言

赛默飞 Evolution 系列分光光度计是一款高精度的紫外—可见光分析仪器,广泛应用于生命科学、化学分析、药物检测、环境监测和材料研究。
其特点在于操作简便、灵敏度高、光谱范围宽(190–1100 nm)且可实现多模式测量。

为了确保实验数据准确可靠,操作人员应熟悉仪器结构、光学系统、测量模式及软件界面,并严格遵循标准化实验步骤。
本指南旨在提供完整的实验操作流程与规范,帮助使用者高效、安全地进行光谱测量数据分析


二、实验前准备

1. 环境条件

为获得稳定的测量结果,实验室应满足以下要求:

  • 温度:20–25℃;

  • 湿度:40%–70%,无冷凝;

  • 电源:AC 220V ±10%,50/60Hz;

  • 环境光线:避免阳光直射与强烈灯光照射;

  • 放置要求:仪器应稳固地放置在防震实验台上,保持水平。

2. 检查仪器状态

  • 确认电源线与接地线连接牢固;

  • 打开仪器电源,等待系统自检完成;

  • 检查光源工作状态,确认氘灯与钨卤素灯能量正常;

  • 观察触控屏或软件界面,若显示“Ready”表示系统可用。

3. 光源预热

仪器启动后,氘灯与钨灯需预热约 15–20 分钟,以保证光强稳定。
预热期间可准备样品溶液及比色皿。


三、样品与比色皿准备

1. 比色皿要求

  • 标准光程为 10 mm;

  • 材质分为石英(用于紫外区)与玻璃(用于可见区);

  • 每次实验应使用干净、无划痕的比色皿;

  • 若使用多个比色皿,应保证其透光性能一致。

2. 样品溶液准备

  • 配制样品溶液与空白溶液;

  • 若样品浓度较高,应稀释至吸光度 0.2–1.0 区间;

  • 若含有悬浮物,应先离心或过滤。

3. 比色皿清洁与加样

  • 使用前用蒸馏水或对应溶剂清洗比色皿;

  • 加样量约为比色皿容积的 2/3;

  • 避免产生气泡,可用吸管轻轻贴壁注入。


四、仪器操作流程

1. 启动与初始化

  1. 打开电源开关;

  2. 系统自动执行光源检测与波长自校准;

  3. 屏幕进入主界面,显示测量模式选项。

2. 选择测量模式

Evolution 系列提供多种测量模式,操作员可根据实验类型选择:

  • 固定波长测量(Fixed Wavelength);

  • 波长扫描(Scan Mode);

  • 定量分析(Quantitative Mode);

  • 时间扫描(Kinetics Mode);

  • 多波长测量(Multi-Wavelength Mode);

  • 核酸/蛋白质测定模式(DNA/Protein)。

3. 设定实验参数

根据实验需求输入以下参数:

  • 测量波长或扫描范围(如 200–800 nm);

  • 扫描步长(一般为 0.5–2 nm);

  • 扫描速度(Slow、Medium 或 Fast);

  • 测量单位(吸光度 A 或透过率 %T);

  • 若进行定量实验,需输入标准曲线点数与浓度值。

4. 空白校正

空白校正是实验的关键步骤。

  1. 在比色皿中加入纯溶剂或参比溶液;

  2. 将比色皿放入样品舱中;

  3. 点击“Blank”执行基线校正;

  4. 系统自动设定此信号为 0.000 A 或 100%T。

5. 样品测量

  1. 将样品比色皿放入样品舱;

  2. 点击“Measure”开始测量;

  3. 仪器自动采集光谱数据并显示曲线或数值;

  4. 若为扫描模式,系统自动绘制吸收光谱图;

  5. 测量完成后,可选择保存、打印或导出结果。


五、常用测量模式操作详解

1. 固定波长测定

用途:快速测定特定波长下样品的吸光度或透过率。
步骤

  • 输入测量波长(如 280 nm);

  • 执行空白校正;

  • 测量样品并记录吸光度。

此模式常用于蛋白质含量或溶液浓度测定。

2. 波长扫描模式

用途:获取样品在整个波长范围内的吸收光谱。
操作流程

  • 设定扫描起止波长(如 200–800 nm);

  • 执行空白校正;

  • 启动扫描,系统自动绘制光谱曲线;

  • 可放大、平滑或标注峰位。

结果分析

  • 峰值位置即样品的最大吸收波长 λmax;

  • 峰形变化反映样品结构特征或纯度。

3. 定量分析模式

用途:依据标准曲线法测定未知样品浓度。
步骤

  1. 测量 3–7 个不同浓度标准溶液吸光度;

  2. 系统自动绘制 A–C 曲线并计算回归方程;

  3. 测量未知样品吸光度;

  4. 自动计算浓度并显示结果。

特点:自动计算 R² 值、斜率、截距,支持多点拟合。

4. 时间扫描模式

用途:监测反应过程中吸光度随时间的变化。
操作

  • 设定波长与采样时间间隔(如每 2 秒);

  • 启动测量,系统连续记录 A–t 曲线;

  • 自动计算反应速率常数或反应初速。

应用:酶动力学实验、光降解研究、反应速率分析。

5. 多波长模式

用途:同时测定样品在多个波长下的吸光度,用于多组分分析。
示例核酸纯度分析(A260/A280 比值)。
操作步骤

  • 输入待测波长(如 230、260、280 nm);

  • 执行空白校正;

  • 测量后系统自动计算吸光度与比值。


六、数据处理与分析

1. 数据查看与统计

测量完成后,系统自动生成表格与光谱曲线。
用户可进行以下操作:

  • 平均值与标准偏差计算;

  • 曲线平滑、缩放与峰值标注;

  • 光谱叠加比较;

  • 计算吸光度差值与浓度转换。

2. 报告生成

  • 系统可自动生成实验报告,包含参数设置、测量数据、标准曲线及光谱图;

  • 报告格式支持 PDF、CSV、TXT 等;

  • 可直接打印或导出至 U 盘与实验室服务器。

3. 数据保存与导出

  • 内部存储可保存约 1000 组实验数据;

  • 通过 USB 或网络接口导出数据;

  • 部分型号支持云端同步与 LIMS 数据管理系统连接。


七、实验误差与质量控制

1. 仪器误差控制

  • 定期进行波长校准(使用氧化钬滤光片);

  • 定期进行吸光度校准(使用重铬酸钾溶液);

  • 检查光源能量是否稳定。

2. 操作误差控制

  • 保持比色皿方向一致;

  • 避免样品表面有气泡;

  • 保证溶液浓度在仪器线性范围内;

  • 样品舱盖在测量时必须关闭,以减少杂散光。

3. 重复性与再现性检查

  • 每个样品测定 3 次取平均值;

  • 计算标准偏差(SD)与变异系数(CV%);

  • 若 CV% > 2%,需重新测量。


八、实验结束与仪器维护

1. 测量结束操作

  • 完成测量后关闭光源;

  • 退出软件并关闭主机电源;

  • 取出比色皿,清洗干净并擦干;

  • 盖上仪器防尘罩。

2. 光学系统维护

  • 定期清洁光学窗口与样品舱;

  • 禁止使用含氨或强碱性清洁剂;

  • 若发现光强衰减,需检查光源并重新校准。

3. 光源保养

光源类型寿命(小时)建议更换周期
氘灯1000–1500每 12 个月
钨卤素灯2000每 18 个月

4. 存放与停机

若仪器长期停用,应:

  • 关闭电源并断开插头;

  • 将样品舱清洁干净;

  • 存放于干燥、避光环境;

  • 每月通电预热一次以保持电子系统稳定。


九、安全操作规范

  1. 严禁在光源点亮状态下打开光源舱盖,以防紫外辐射伤害;

  2. 操作液体样品时避免溅入仪器内部;

  3. 禁止在高湿或高温环境下运行;

  4. 清洁仪器时须断电,严禁使用含氯溶剂;

  5. 定期检查接地装置,防止漏电。


十、实验实例:溶液吸收光谱测定

实验目的:测定有机染料溶液的吸收峰并确定 λmax。

实验步骤

  1. 打开仪器并完成光源预热;

  2. 设置扫描范围 300–700 nm,步长 1 nm;

  3. 以蒸馏水为空白进行基线校正;

  4. 放入样品比色皿,点击“Scan”;

  5. 获取吸收光谱曲线,记录最大吸收波长;

  6. 导出光谱数据并打印报告。

结果分析

  • λmax = 512 nm,为染料分子主要吸收峰;

  • 吸光度值可用于浓度计算或结构分析。


十一、常见问题与解决方法

问题现象可能原因解决方法
仪器无法启动电源连接不良检查插头与保险丝
吸光度值不稳定光源未预热、样品含气泡预热充分、重新取样
光谱曲线畸变比色皿污染或光路偏移清洁比色皿、重新校准
数据无法保存内存满或U盘异常删除旧文件或更换设备
无法打印报告接口未识别检查打印机连接

十二、操作培训与质量管理

1. 操作培训内容

  • 理论培训:光谱分析原理、仪器结构、测量模式;

  • 实践培训:样品测量、基线校正、数据导出;

  • 维护培训:光源更换、能量校准、软件更新。

2. 培训考核项目

  • 操作规范性;

  • 测量准确度与重复性;

  • 报告生成与数据完整性;

  • 安全操作执行情况。

3. 实验记录与档案管理

每次实验应填写《分光光度计实验记录表》,包括:

  • 样品编号与操作人;

  • 实验参数与模式;

  • 测量结果与备注;

  • 仪器状态与校准信息。